詳細情報
著作分類
論文
著者
Kohzu, Hideaki
論文タイトル
Reliability Studies of one-micron Schottky Gate GaAs FET
機関名
IEDM
巻
号
ページ
p. 247
出版・発行年月
1975
要旨
備考
参考URL
ラベル
技術経営
登録日
1975/12/31
